HD-2000增强款智能手机安检门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
HD-2000增强款是华盾专为教育行业研发的一款智能安检门产品。可在排除钥匙串、皮带扣等随身物品的前提下，准确探测到手机（待机、关机状态，或置于屏蔽袋中）、智能手表、智能眼镜、蓝牙耳机等考试违禁物品，同时对管制类物品进行提醒，并以图形化形式直观的呈现出具体的藏匿部位，通行速度快，准确率高，有效保障了教育考试的公平性。产品配备10寸触摸屏和18.5寸显示大屏，可查看通行人数、报警人数、报警物品类别、物品藏匿位置、手机藏匿姿态等信息，支持存储并导出安检记录，并支持平台联网管理功能。该产品广泛应用于教育考试和日常校园管控等场景。
诸侯快讯网址
- 自动滤除钥匙、皮带扣、眼镜等日常随身物品，提升安检有效率
- 满足考试院最新规定，除手机外，可检测智能眼镜、智能手表.蓝牙耳机等考试违禁物品
- 全区域覆盖，头顶和脚部均无盲区
- 准确率高，检测速度快，通行效率高
- 30个细分区位显示，准确辨别违禁品，并以图文形式显示藏匿位置及姿态
- 人脸和检测结果关联，便于快速锁定违规人员
- 安装调试便捷，抗环境干扰能力强，快速完成现场部署
- 全国大量局点实践经验，高效保障教育考试安检工作顺利开展
- 拥有电子产品探测模式、手机+违禁品探测模式双模式
|
特性 |
描述 |
|
金属探测防区模式 |
30区位探测和显示，图形支持显示身前或身后位置 |
|
总人数统计 |
支持 |
|
报警人数统计 |
支持 |
|
人脸抓拍模块 |
支持双摄像头 |
|
声光报警 |
支持 |
|
电源 |
AC220V±10%/50Hz |
|
外形尺寸 |
2350mm（高）*850mm（宽）*650mm（深） |
|
通道尺寸 |
1980mm（高）*710mm（宽）*650mm（深） |
|
显示屏 |
10寸触摸屏+18.5寸液晶屏 |
|
重量 |
≤100kg |
|
功耗 |
≤70W |
|
工作温度 |
-20~60℃，RH95% |
我们还有更多产品推荐
高精度金属安检门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，准确检测到违禁物品。
HD-S200智能手持式探测仪
HD-S200智能手持式探测仪可智能过滤钥匙、香烟、打火机等日常随身金属物品的前提下，检测到手机或其它违禁物品。与传统手持探测器相比，该产品采用数字化电路设计，性能稳定，抗干扰能力强，无需校准操作。
HD-Ⅲ智能手机探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
Cu-A1铜制品探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
BD-Ⅰ高精度金属分类探测门（子弹门）
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
BD-Ⅰ医院版违禁品探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
BD-Ⅰ地铁版违禁品探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
FDT-SE100100D型X射线安全检查设备
FDT-SE1010D型X射线安全检查设备采用顶照式和测照式双光源X光透视和两套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE100100型X射线安全检查设备
FDT-SE100100型X射线安全检查设备采用底照式单光源X光透视和单套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE6550D型X射线安全检查设备
FDT-SE6050D型X射线安全检查设备采用底照式和测照式双光源X光透视和两套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE6550Bi型X射线安全检查设备
FDT-SE6050Bi型X射线安全检查设备采用底照式单光源X光透视和单套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE6550型X射线安全检查设备
FDT-SE6050型X射线安全检查设备采用底照式单光源X光透视和单套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
