FDT-SE6550D型X射线安全检查设备
FDT-SE6050D型X射线安全检查设备采用底照式和测照式双光源X光透视和两套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。在传统X光识别有/无机物的基础之上，可自动识别液体。结合X光在透视方面的成像优势，可对被检物品进行“无死角”观察，自动辨别违禁物品并报警。
适用于：地铁、三甲二甲医院，法院、检察院、监狱、看守所、公安检查站、部队营房、标准考场、国际大型活动、体育馆、博物馆，历史文化馆，高铁站VIP室、码头、海关边防出入境检查点、大使馆、等公共场所的管制品安全检查。
诸侯快讯网址
- 选用国际品牌电器元件，整机性能更稳定
- 工业级 PLC 电路控制，电磁兼容性高
- 电容积分模数转换，图像清晰入微
- 工业级计算机，系统长期稳定可靠
- 人体工程原理阅图系统，抗疲劳
- 辐射防护接近空气本底
- 具有强大的图像处理能力和AI自动识别功能
- 具有一键开关机、穿不透报警、上电自检、硬件维护诊断提示等辅助功能
- 具有AI智能辅助判图、危险液体自动识别、节能自动休眠，摄像监控等扩展功能
特性 | 描述 |
外形尺寸 | 2245mm（长）×1245mm (宽)×1320mm (高) |
通道尺寸 | 655mm(宽)×505mm(高) |
传送速度 | 0.20±0.02m/s |
| 传送带高度 | 651mm |
传送带均匀负重 | 200kg |
重量 | 480kg |
储藏温度 / 相对湿度 | -40℃±3℃～+60℃±2℃ / 5%～95%（不结露） |
运行温度 / 相对湿度 | 0℃±3℃～+40℃±2℃ /5%～95%（不结露） |
电源 | AC220伏(-10%～+10%)，50Hz±3Hz |
功耗 | 0.6kVA |
穿透力 | 38mm钢板 |
线分辨力 | 40AWG |
穿透分辨力 | 32AWG |
空间分辨力 | 水平 Ф1.0mm 垂直 Ф1.0mm |
通过率 | ＞720个/h |
单次检查剂 | ≤3.0μGy |
泄露射线剂量率 | ＜1.0μGy/h |
系统噪音 | 54dB（A） |
射线束方向 | 底照式（从下往上）和侧照式 |
管束压 | 140~160kV可调 |
管束流 | 0.3~1.2mA可调 |
冷却方式 / 运行周期 | 密封式油冷/100% |
射线束发散角 | 80° |
我们还有更多产品推荐
高精度金属安检门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，准确检测到违禁物品。
HD-S200智能手持式探测仪
HD-S200智能手持式探测仪可智能过滤钥匙、香烟、打火机等日常随身金属物品的前提下，检测到手机或其它违禁物品。与传统手持探测器相比，该产品采用数字化电路设计，性能稳定，抗干扰能力强，无需校准操作。
HD-Ⅲ智能手机探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
Cu-A1铜制品探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
BD-Ⅰ高精度金属分类探测门（子弹门）
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
BD-Ⅰ医院版违禁品探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
BD-Ⅰ地铁版违禁品探测门
华盾智能安检门采用金属分类探测识别技术、磁场变换技术，以及我司自主研发的智能算法，精准识别不同金属物体的电磁特征，实现在排除日常携带金属物品的基础上，准确检测到违禁物品。
FDT-SE100100D型X射线安全检查设备
FDT-SE1010D型X射线安全检查设备采用顶照式和测照式双光源X光透视和两套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE100100型X射线安全检查设备
FDT-SE100100型X射线安全检查设备采用底照式单光源X光透视和单套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE6550D型X射线安全检查设备
FDT-SE6050D型X射线安全检查设备采用底照式和测照式双光源X光透视和两套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE6550Bi型X射线安全检查设备
FDT-SE6050Bi型X射线安全检查设备采用底照式单光源X光透视和单套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
FDT-SE6550型X射线安全检查设备
FDT-SE6050型X射线安全检查设备采用底照式单光源X光透视和单套探测器阵列，通过L形光电二极管探测器捕捉到穿过物体后的X射线强度变化，并转换成电信号，再经过计算机处理后形成清晰图像，从而可以显示物体内部结构的情况。
